主要技术指标：
测角仪精度：0.001°，角度重现性：0.0001°；
θ角范围:0~360 ° ，最小步长：0.0001 °。
功能/应用范围：
对材料进行X射线衍射分析其衍射图谱，获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等；
定性和定量相分析、带介质和无介质条件下的衍射分析、粉末样品的晶体结构解析、微晶尺寸分析、微应变分析、残余应力分析以及择优取向分析。
